SJT 10156-1991 电子元器件详细规范 混合厚膜集成电路HM0111,MH0114电源误差放大电路
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ID： |
F4B9564ADA2E4B2EAA788EDBA85D9FD7 |
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文件大小(MB)： |
0.17 |
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页数： |
11 |
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日期： |
2009-6-11 |
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Si,中华人民共和国电子工业行业标准,SJ/T 10153- 10156--91,电子元器件详细规范,膜和混合膜集成电路,(一),1991一04-02发布1991一07-01实施,中华人民共和国机械电子工业部发布,中华人民共和国电子工业行业标准,电子元器件详细规范sJ/T 10156-91,混合厚膜集成电路HMOs l l,HM0114,电源误差放大电路,本 规 范 规定了混合厚膜集成电路HMO]1 I ,H M0114电源误差放大电路的鉴定和质量评定,的全部内容,中华人民共和国机械电子工业部1991-04-02批准1991一07-01实施,SJ/T 10156- 91,中华人民共和国机械电子工业部,评定器件质量的依据:,GB 8976u膜集成电路和混合膜集成电路,总规范》,GB 11498《膜集成电路和混合膜集成电路,分规范(采用鉴定批准程序)}),SJ/T 10156- 91,HM0111 ,HM0114电源误差放大电路(以下简称电路)详细规范,订货资料:见本规范第8章,1 机械说明,外 形 图 和尺寸见本规范第9章,安 装 : 用锡焊,标 志 按 GB 8976第2.6 条和本规范第,7章 ,2 简要说明,混 合 厚 膜集成电路,封 装 :用 “三防’，，’涂料包封,应 用 :用 于彩色电视机电源误差放大电,路 ,3 质it评定水平,M,注:l)“三防”指防潮热、防盐雾、防霉菌,sJ/T 10156-91,使用的极限条件,条款号名称符号规定值单位,4. 1 工作环境温度T, 一25,+85 ℃,4.2 贮存温度1勺e 一55; + 125 ℃,4.3 贮存湿度l!} 70 %RH,5 电特性,注:仅在必要时，才采用B项条件和规定值,弓1用标准,GB 8976 膜集成电路和混合膜集成电路总规范,GB日498 膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序),GB 2423.8 电工电子产品基本环境试验规程试验Ed:自由跌落试验方法,标志,了.1 电路上应标明下列内容:,a. 引 出端的识别(允许用说明书说明);,b. 电 路 的型号;,生 产 厂 商 标 ;,d. 生 产日期,7.2 外包装上应标明下列内容:,电路 的型 号 ;,b. 生 产 日期;,c. 生 产厂名称;,一 32 一,sa/'r 10156-91,生产厂商称,电路合格标志,止e.,订货资料,订购电路时至少需要下列资料,电 路 名 称及型号;,b， 详细规范的编号;,评 定 水 平,外形图和尺寸,电路的外形图和尺寸如图1所示,﹃学1,口白,学,钧,附加资料,电 路图,加10,薪石R" V, R . C V, I 习 R . U R .,图2,sa/T 10156-91,10.2 元器件参数,位号元器件名称,参数,单位偏差,HM OI l l HM O] 14,R 胜,电阻,1 I,kf: 士5%,R, 4. 7 4. 7,R, 3.3 3 3,R月12 12,Rs 6. 4 5.3,Rx 8.2 8.2,R, 13 12.7,R,},4‘2,l,3 9,Rg 100 100,C 电容0. 0l 0.01 pF,I +a01。/,(一20)，,VL,晶体管I,1 {,V2,V ,一,V,10. 3,10.4,t I1品体管参数见有关技术资料.,测 试线路,图,耐久性试验线路图,34,sJ/T 10156-91,195mvA,图4,11 试验条件和检验要求,试验条件和检验要求按表1和表2的规定,若无其他规定，表!和表2中所引用的条款均为GB 8976的条款,在表1和表2中:,P，周期(以月为单位);,:样本大小;,C:合格判定数(允许的不合格品数);,D:破坏性的;,ND:非破坏性的;,IL;检查水平,AQL:合格质量水平,表 】,条款号、试验和试验程序D/ND 试验条件lL AQL 性能要求,人组检验(逐批),人节分组,屯3.2 外观和标志检查,ND,按本规范附录Al,互】,按本规范附录Al,A2分组,4.4. 11 在室温下的主要电性能,N D {,按本规范附录A2,一。0.65,按本规范附录A2,一35 一,S7/T 10156- 91,续表1,条款号、试验和试验程序D/ND 试验条件比人OL 性能要求,B组检验(逐批),Bl分组,4.5.10 可焊性,D,按本规范附录A4,S3 1,按本规范附录人4,B2分组,4.33 尺寸,N D,用通用或专用t,具进行测E,S4 0. 65,按本规范第9章,表2,条款号、试验和试验程序D/ND 试验条件同n C 性能要求,C组检验(周期),Cl分组,4. 4. 11 极限工作温度下的电特性,N D,按本规范附录A3,6 8 1,按本规范附录A3,C2分组,4.4.11 初始侧云,跌落,东5.6 振动,4.4. 11 最后1M $,C,同人2分组,按本规范附录AS,按本规范附录人6,同A2分组,12 8 1,同A2分组,按本规范附录AS,按本规范附录A6,同A2分组,C3分组,4.4. 11 初始测量,4. 5. 11 耐焊接热,4. 5.8 温度变化,‘.5.3 橡态湿热,4. 4. 11 最后测量,D,同A2分组,按本规范附录A7,按本规范附录人8,按本规范附录人9,同A2分组,12 8 1,同A2分组,本规范附录人了,按本规范附录人8,按本规范附录人9,同A2分组,按I,C4分组,4. 4. 11 初始测量,4.52 低温,东51 高温贮存,4. 4. 11 最后测童,ND,一,按本规范附录A10,按本规范附录All,同A2分组,{128 1,同A2分组……
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